加工定制:否 | 品牌:Agilent/安捷伦 | 型号:4155C |
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Agilent 4155C半导体器件分析仪4155C
4155c 半导体参数分析仪
4155c半导体测试仪是agilent下一代精密半导体测试仪。4155c是描述***器件的低成本、实验室级的参数测试仪。4155c低的电流、电压精度和内置的准静态cv测量能力提供了未来扩展的基础。41501b可扩展测量能力到1a/200v,还可以在4155c上增加低的噪声双脉冲发生器。 4155c提供了基于pc的参数分析和表征全套方案的环境。标准配置包括一个参数分析仪,agilent i/cv 3.0 lite 自动测试软件,运行windows xp 操作系统的pc。i/cv 3.0 lite 提供一个图形用户界面,具有强大的分析工具,探针驱动和自动测试工具。
特性
· 4155c提供4个内置的源/监控单元(mpsmus),两个电压源单元(vsus)和两个电压监控单元( vmus) · 10 fa 和0.2 uv的测试精度可满足开发新的工艺技术和评价材料 · performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements · 完成准静态的电容对电压测量 · 自动提取程序参数而不需要人工操作屏幕光标 · 用***的smus测量泄漏特性。 · 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征。 · 用内置的应力测量模式完成晶片的可靠性测试 · 用图形用户界面实现“点击”测试 · windows环境提供图形数据分析能力 · 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常。 · 待机模式消除外部电源的需要 · 触发模式可以同步ac/dc测试 · ibasic 用户功能可以绘图和分析数据